Природа рентгеновских лучей. Кристаллическая структура и дифракция. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом. Методы и программные средства рентгеноструктурного анализа. Структурные характеристики элементарных ячеек системы NdxBi1-xFeO3.
1. Природа рентгеновских лучей 2. Кристаллическая структура и дифракция 3. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом 4. Методы рентгеноструктурного анализа 4.1 Метод Лауэ 4.2 Метод вращения монокристалла 4.3 Метод порошка 5. Рентгеноструктурный анализ твердых тел 5.1 Программы уточнения параметров элементарной ячейки 5.2 Структурные характеристики элементарных ячеек системы веществ NdxBi??xFeO? Заключение Приложение 1 Приложение 2 Список использованной литературы Введение Предмет рентгенографии - решение основной задачи структурного анализа при помощи рассеяния (дифракции) рентгеновского излучения. С помощью структурного анализа можно определять: а) периодическую атомную структуру кристалла; б) дефекты (динамические и статические) реальных кристаллов; в) ближний порядок в аморфных телах и жидкостях; г) структуру газовых молекул; д) фазовый состав вещества. Микроскопически кристалл может быть описан как кристаллическая решетка, т.е. правильно периодически повторяющаяся система точек (центров тяжести частиц, слагающих кристалл), описываемая тремя некомпланарными осевыми трансляциями и тремя осевыми углами (рис.1). Рис. Таким образом, эта картина несет важную информацию о структуре кристалла, на котором происходит дифракция, что и было, в частности, предметом изысканий У. Брэгга и его сына У. Брэгга. На основе явления дифракции рентгеновского излучения отец и сын Брэгги создали необычайно ценный экспериментальный метод рентгеноструктурного анализа кристаллов.
Вы можете ЗАГРУЗИТЬ и ПОВЫСИТЬ уникальность своей работы
