Структурно-функціональний аналіз тестопридатності при проектуванні цифрових систем на кристалах - Автореферат

ХАРКІВСЬКИЙ НАЦІОНАЛЬНИЙ УНІВЕРСИТЕТ РАДІОЕЛЕКТРОНІКИ Структурно-функціональний аналіз тестопридатності при проектуванні цифрових систем на кристалахЗахист відбудеться "14.05.2008 року о 15 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д64.052.01 у Харківському національному університеті радіоелектроніки за адресою: 61166, м. 3 дисертацією можна ознайомитися в бібліотеці Харківського національного університету радіоелектроніки за адресою: 61166, м. Мета дисертаційного дослідження - розробка моделей та методів структурно-функціонального аналізу тестопридатності проектованих цифрових систем на кристалах, що дозволяють суттєво зменшити час верифікації та обсяг діагностичної інформації при одночасному покращенні якості тестів і глибини діагностування дефектів. Практична значущість отриманих результатів полягає у програмній реалізації моделей та методів аналізу тестопридатності, вибору критичних контрольних точок сканування складних цифрових систем на кристалах в цілях синтезу тестів, моделювання несправностей та діагностування дефектів; імплементації програмних засобів аналізу тестопридатності та наступної модифікації цифрових проектів в систему SIGETEST, валідному тестуванні методу, моделей та програмних засобів шляхом порівняння з існуючими світовими аналогами за допомогою тестових бібліотек провідних фірм, а також інтеграції в сучасні маршрути проектування SOC на основі стандартів граничного сканування IEEE (11.49,1500). Основные результаты: новый структурно-функциональный метод анализа тестопригодности цифровых систем на кристаллах (TADATPG), который характеризуется повышенной точностью, расширенной функциональностью и позволяет выполнять оценку качества проектов большой размерности (до 1000000 эквивалентных вентилей); новая функциональная сильносвязная трехкомпонентная (тест-дефекты-выходы) TFY-модель тестирования цифровых систем на кристаллах, позволяющая определить новые пути решения шести наиболее актуальных взаимосвязанных задач технической диагностики в том числе - генерирование тестов и анализ их качества на основе граничного сканирования критических внутренних линий; новая неитеративная модель диагностирования цифровых систем на кристаллах, позволяющая существенно повысить глубину поиска дефектов на проверяющем тесте без увеличения числа выходов схемы; усовершенствованная модель процесса выбора контрольных точек, позволяющая модифицировать комбинационные и последовательностные, асинхронные и синхронные проекты большой размерности в целях повышения их тестопригодности в среднем на 20%; усовершенствованный П-алгоритм синтеза кубических покрытий, позволяющий повысить тестопригодность цифровых проектов на основе точного структурно-функционального анализа управляемости и наблюдаемости линий типовых схем небольшой размерности (IP-cores) регистрового уровня, для их последующего многократного использования в качестве компонентов SOC.В основу Ultra Mobile PC положено реалізацію цифрової системи на кристалі, що містить такі компонента: процесор, память, цифрові та аналогові порти введення-виведення, приймач-передавач для організації безпроводового звязку по технологіям (Bluetooth, Wi-Fi, Wi-Max), спеціалізований процесор для забезпечення працездатності. Сутність дисертаційної роботи полягає у розробці моделей та методу аналізу тестопридатності SOC, які спільно з технологіями та засобами граничного сканування забезпечують суттєве (20%) зменшення часових витрат, повязаних з верифікацією проектованого виробу, яка включає процедури генерації тестів, моделювання несправностей, діагностування дефектів в рамках виконання стандарту проектування Design for Manufacturability. A), № 02 від 19.11.2001 "Розробка програмних і апаратних засобів верифікації систем на кристалі, реалізованих на основі програмувальних логічних інтегральних схем"; 2) Договір про науково-технічне співробітництво в галузі створення систем автоматизованого тестування з Талліннським технічним університетом № 01 від 07.04.2004; 3) Договір про науково-технічне співробітництво з фірмою «Лаборатория Касперского», Москва, Росія, № 01 від 14.04.2005; 4) Грантовий дослідницький проект «SIGETEST - моделювання та синтез тестів для складних цифрових систем», ініційований компанією Intel, 2003; Госпдоговір із ЗАТ «Северодонецьке НВО Імпульс» «Розробка технології автоматизованого проектування відмовостійких програмно-технічних комплексів»; Держбюджетна НДР "Дослідження і розробка методів, структурних і архітектурних принципів апаратних і програмних засобів швидких цифрових перетворень зображень", розділ "Система тестування цифрових засобів, що проектуються" (№ ГР 0104U004074); 7) Держбюджетна НДР "Розробка математичних методів, алгоритмів та інструментальних засобів надшвидких перетворень зображень", розділ "Розробка основ нових інформаційних технологій в автоматизованому проектуванні, діагностиці засобів обчислювальної техніки" (№ ГР 010Ш001948).