Структурно-функціональний аналіз тестопридатності при проектуванні цифрових систем на кристалах - Автореферат

АВТОРЕФЕРАТ дисертації на здобуття наукового ступеня кандидата технічних наук СТРУКТУРНО-ФУНКЦІОНАЛЬНИЙ АНАЛІЗ ТЕСТОПРИДАТНОСТІ ПРИ ПРОЕКТУВАННІ ЦИФРОВИХ СИСТЕМ НА КРИСТАЛАХРобота виконана у Харківському національному університеті радіоелектроніки, Міністерство освіти і науки України. Хаханов Володимир Іванович, Харківський національний університет радіоелектроніки, декан факультету компютерної інженерії та управління. Хажмурадов Манап Ахмадович, Національний науковий центр "Харківський фізико-технічний інститут", начальник відділу математичного забезпечення; Захист відбудеться "14.05.2008 року о 15 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д64.052.01 у Харківському національному університеті радіоелектроніки за адресою: 61166, м. 3 дисертацією можна ознайомитися в бібліотеці Харківського національного університету радіоелектроніки за адресою: 61166, м.В основу Ultra Mobile PC положено реалізацію цифрової системи на кристалі, що містить такі компонента: процесор, память, цифрові та аналогові порти введення-виведення, приймач-передавач для організації безпроводового звязку по технологіям (Bluetooth, Wi-Fi, Wi-Max), спеціалізований процесор для забезпечення працездатності. Сутність дисертаційної роботи полягає у розробці моделей та методу аналізу тестопридатності SOC, які спільно з технологіями та засобами граничного сканування забезпечують суттєве (20%) зменшення часових витрат, повязаних з верифікацією проектованого виробу, яка включає процедури генерації тестів, моделювання несправностей, діагностування дефектів в рамках виконання стандарту проектування Design for Manufacturability. 4) Грантовий дослідницький проект «SIGETEST - моделювання та синтез тестів для складних цифрових систем», ініційований компанією Intel, 2003; Госпдоговір із ЗАТ «Северодонецьке НВО Імпульс» «Розробка технології автоматизованого проектування відмовостійких програмно-технічних комплексів»; Держбюджетна НДР "Дослідження і розробка методів, структурних і архітектурних принципів апаратних і програмних засобів швидких цифрових перетворень зображень", розділ "Система тестування цифрових засобів, що проектуються" (№ ГР 0104U004074); Держбюджетна НДР "Розробка математичних методів, алгоритмів та інструментальних засобів надшвидких перетворень зображень", розділ "Розробка основ нових інформаційних технологій в автоматизованому проектуванні, діагностиці засобів обчислювальної техніки" (№ ГР 010Ш001948). уперше запропоновано нову функціональну сильнозвязну трикомпонентну "тест-дефекти-виходи"-модель тестування цифрових систем на кристалах, що характеризується введенням додаткових ліній спостереження та можливістю мінімізації довжини тесту і кількості спостережуваних ліній та дозволяє по новому вирішити задачі генерування тестів і аналізу їх якості на основі граничного сканування критичних внутрішніх ліній; Обґрунтованість та достовірність наукових положень підтверджується коректністю нового структурно-функціонального методу аналізу тестопридатності цифрових систем на кристалах і удосконаленої моделі процесу вибору контрольних точок, а також впровадженням програмних засобів аналізу тестопридатності складних цифрових систем на кристалах, їх інтеграцією в сучасні маршрути проектування SOC на основі стандартів граничного сканування IEEE, валідним тестуванням методу, моделей і програмних засобів шляхом порівняння з існуючими світовими аналогами за допомогою тестових бібліотек провідних фірм - лідерів в області проектування SOC.Визначено проблему мінімізації тесту: Тут мова іде про вибір такого тесту, що має максимальні властивості покриття несправностей, коли кандидат у тести перевіряє всі дефекти - реакція цифрового виробу на тест за наявності та відсутності несправності дорівнює пустій множині або логічній 1,якщо операція перерізу замінюється на xor: Сформульовано функцію мети, що визначаєгься як вибір мінімальної підмножини додаткових ліній з n варіантів Вирішено задачі мінімального збільшення кількості спостережуваних ліній, що забезпечує підвищення якості фіксованого тесту до 100%; мінімізації фіксованого тесту, що має 100% якість, шляхом збільшення кількості спостережуваних ліній та вирішення задачі покриття; визначення мінімальної кількості додаткових спостережуваних ліній цифрового пристрою на основі методу CAMELOT. Перші дві задачі орієнтовані на досягнення потрібної якості тесту (наприклад, 100%) в режимі доповнення векторів або ліній спостереження; інші чотири - на мінімізацію параметрів довжини тесту та кількості ліній, що спостерігаються, при збереженні досягнутої якості. Для формалізації процесу пошуку додаткових ліній спостереження в цілях підвищення якості вже згенерованого тесту до наперед заданої величини вводиться модель, що залежить від таких параметрів: Z=f(S,T, С, О, Т), де S - структура схеми; Т-тест; С-керованість ліній; О-їх спостережуваність; Т - тестованість.

ОСНОВНИЙ ЗМІСТ РОБОТИ