Створення установки для вимірювання кутових залежностей інтенсивностей поляризованого світла, розробка надійного методу визначення оптичних сталих ультратонких плівок та визначення їх товщини. Дослідження розмірних ефектів та кута брюстера тонких плівок.
Аннотация к работе
НАЦІОНАЛЬНА АКАДЕМІЯ НАУК УКРАЇНИРобота виконана в Інституті фізики напівпровідників, Національна академія наук України, м. Науковий керівник: академік НАН України, доктор фізико-математичних наук, професор Лисиця Михайло Павлович, Інститут фізики напівпровідників НАНУ головний науковий співробітник Офіційні опоненти: доктор фізико-математичних наук, професор Дмитрук Микола Леонтійович, Інститут фізики напівпровідників НАНУ, завідуючий відділом поляритонної оптоелектроніки доктор фізико-математичних наук Страшнікова Майя Іларіонівна, Інститут фізики НАНУ провідний науковий співробітник відділу нелінійної оптики. Захист відбудеться “16” листопада 2001 р. о 1415 на засіданні спеціалізованої вченої ради К 26.199.01 в Інституті фізики напівпровідників НАН України за адресою: 03650, Київ 28, проспект Науки, 41.Дослідження оптичних властивостей твердих тіл, в тому числі у вигляді тонких плівок, мають на меті: по-перше, отримати дані про енергетичну структуру обєктів дослідження; по-друге, визначити такі важливі параметри як показники заломлення й поглинання. Якщо мати на увазі оптику і спектроскопію, тонкі плівки прозорих і поглинаючих світло матеріалів застосовуються в інтерференційних і абсорбційних фільтрах, для виготовлення багатошарових дзеркал, поляризаторів, приймачів і джерел світла, просвітлення оптики. В ході досліджень ряд авторів отримували товщинні залежності показника заломлення, які при зменшенні товщини плівки до кількох атомних шарів не спадали, а катастрофічно зростали [1-5]. За її допомогою і використанням раніше опублікованих експериментальних даних [3-5, 7] було розраховано товщинні залежності оптичних параметрів тонких плівок атомарних напівпровідників Se, Te, Ge, Si і одержано нібито розумні результати [8]. Обєктами дослідження обрано тонкі плівки золота, а також інші метали та атомарні напівпровідники, для яких експериментальні дані було отримано дисертантом і, частково, іншими авторами; а також формули для визначення оптичних сталих поглинаючих середовищ, тобто: формули Френеля та їх аналоги.