Розмірні ефекти в тонких шарах твердих тіл - Автореферат

бесплатно 0
4.5 78
Створення установки для вимірювання кутових залежностей інтенсивностей поляризованого світла, розробка надійного методу визначення оптичних сталих ультратонких плівок та визначення їх товщини. Дослідження розмірних ефектів та кута брюстера тонких плівок.

Скачать работу Скачать уникальную работу

Чтобы скачать работу, Вы должны пройти проверку:


Аннотация к работе
НАЦІОНАЛЬНА АКАДЕМІЯ НАУК УКРАЇНИРобота виконана в Інституті фізики напівпровідників, Національна академія наук України, м. Науковий керівник: академік НАН України, доктор фізико-математичних наук, професор Лисиця Михайло Павлович, Інститут фізики напівпровідників НАНУ головний науковий співробітник Офіційні опоненти: доктор фізико-математичних наук, професор Дмитрук Микола Леонтійович, Інститут фізики напівпровідників НАНУ, завідуючий відділом поляритонної оптоелектроніки доктор фізико-математичних наук Страшнікова Майя Іларіонівна, Інститут фізики НАНУ провідний науковий співробітник відділу нелінійної оптики. Захист відбудеться “16” листопада 2001 р. о 1415 на засіданні спеціалізованої вченої ради К 26.199.01 в Інституті фізики напівпровідників НАН України за адресою: 03650, Київ 28, проспект Науки, 41.Дослідження оптичних властивостей твердих тіл, в тому числі у вигляді тонких плівок, мають на меті: по-перше, отримати дані про енергетичну структуру обєктів дослідження; по-друге, визначити такі важливі параметри як показники заломлення й поглинання. Якщо мати на увазі оптику і спектроскопію, тонкі плівки прозорих і поглинаючих світло матеріалів застосовуються в інтерференційних і абсорбційних фільтрах, для виготовлення багатошарових дзеркал, поляризаторів, приймачів і джерел світла, просвітлення оптики. В ході досліджень ряд авторів отримували товщинні залежності показника заломлення, які при зменшенні товщини плівки до кількох атомних шарів не спадали, а катастрофічно зростали [1-5]. За її допомогою і використанням раніше опублікованих експериментальних даних [3-5, 7] було розраховано товщинні залежності оптичних параметрів тонких плівок атомарних напівпровідників Se, Te, Ge, Si і одержано нібито розумні результати [8]. Обєктами дослідження обрано тонкі плівки золота, а також інші метали та атомарні напівпровідники, для яких експериментальні дані було отримано дисертантом і, частково, іншими авторами; а також формули для визначення оптичних сталих поглинаючих середовищ, тобто: формули Френеля та їх аналоги.

Вы можете ЗАГРУЗИТЬ и ПОВЫСИТЬ уникальность
своей работы


Новые загруженные работы

Дисциплины научных работ





Хотите, перезвоним вам?