Применение разных режимов работы транзисторов для уменьшения потери на нагрев элементов схем. Современные измерители временных интервалов. Особенности промышленных испытаний микросхем ШИМ-контроллеров. Конструкция и программное обеспечение тестера.
Аннотация к работе
Промышленные испытания интегральных микросхем ШИМ-контроллеров