Промышленные испытания интегральных микросхем ШИМ-контроллеров - Статья

бесплатно 0
4.5 119
Применение разных режимов работы транзисторов для уменьшения потери на нагрев элементов схем. Современные измерители временных интервалов. Особенности промышленных испытаний микросхем ШИМ-контроллеров. Конструкция и программное обеспечение тестера.


Аннотация к работе
Промышленные испытания интегральных микросхем ШИМ-контроллеров

А.И. Власов, В.Ф. Зотин, Л.А.
Заказать написание новой работы



Дисциплины научных работ



Хотите, перезвоним вам?