Применение разных режимов работы транзисторов для уменьшения потери на нагрев элементов схем. Современные измерители временных интервалов. Особенности промышленных испытаний микросхем ШИМ-контроллеров. Конструкция и программное обеспечение тестера.
При низкой оригинальности работы "Промышленные испытания интегральных микросхем ШИМ-контроллеров", Вы можете повысить уникальность этой работы до 80-100%