Конструкционные проблемы теплового режима металлических пленок бескорпусных полупроводниковых интегральных микросхем: диаграмма нагрева и расчет надежности эскизного проекта. Интенсивность отказов конструкции и структуры проводника металлизации.
При низкой оригинальности работы "Оценка теплового режима ИМС. Расчет надежности полупроводниковых ИМС по внезапным отказам", Вы можете повысить уникальность этой работы до 80-100%