Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов. Сканирующие элементы, защита зондовых микроскопов от внешних воздействий. Стабилизация термодрейфа положения зонда над поверхностью. Формирование и обработка изображений. Атомно-силовая микроскопия.
1. Теоретическая часть 1.1 Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов 1.2 Сканирующие элементы зондовых микроскопов 1.3 Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий 1.3.1 Защита от вибраций 1.3.2 Защита от акустических шумов 1.3.3 Стабилизация термодрейфа положения зонда над поверхностью 1.4 Формирование и обработка СЗМ изображений 1.5 Атомно-силовая микроскопия 2. Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) - первый из семейства зондовых микроскопов - был изобретен в 1981 году швейцарскими учеными Гердом Биннигом и Генрихом Рорером. Пусть взаимодействие зонда с поверхностью характеризуется некоторым параметром Р.
Вы можете ЗАГРУЗИТЬ и ПОВЫСИТЬ уникальность своей работы
