Произведение расчета надежности устройства, выполненного на печатной плате. Влияние внешних факторов и коэффициенты, учитываемые при расчете. Интенсивности отказов каждого ряда микросхем, разъемов, резисторов. Разделение схемы на структуры по элементам.
