Роль прискорених випробувань в визначенні надійності інтегральних схем, головні причини та механізми відмов. Визначення інтенсивності відмов інтегральної системи, ймовірності безвідмовної роботи, середнього і гамма-відсоткового часу напрацювання.
Вступ У наш час вироби мікроелектронної промисловості так широко ввійшли в сучасне життя суспільства, що відмова від них відкинула би розвиток цивілізації далеко назад. Ми все більшою мірою залежимо від ефективної роботи різного роду радіоелектронної апаратури (РЕА). Розвиток мікроелектроніки обумовлений постійним ростом ступеня інтеграції й функціональної щільності інтегральних схем (ІС), що у свою чергу, якщо не поліпшуються конструктивно-технологічні основи, приводить до росту виникнення відмов елементної бази РЕА і як наслідок зниженню її надійності. Елементна база сучасних радіоелектронних виробів складається з високоінтегрованних компонентів (інтегральних схем, друкованих плат). У звязку з тим, що розроблювачі компонентів більш високої інтеграції ІС роблять розробку під загальні для ряду підприємств вимоги до РЕА, а розроблювачі РЕА керуються конкретними технічними завданнями, можлива розбіжність вимог до рівня якості компонентів РЕА. Таким чином, у різних організаціях, що випускають ІС, рівень їхньої я
Вы можете ЗАГРУЗИТЬ и ПОВЫСИТЬ уникальность своей работы
