Моделювання Х-променевих топографічних зображень дефектів у реальних кристалах Si - Автореферат

бесплатно 0
4.5 151
Встановлення механізмів і закономірностей формування дифракційних зображень окремих дефектів у кремнію та їх комплексів на секційних і проекційних топограмах при дії зовнішніх чинників. Визначення інтегральних характеристик Х-хвильової дифракції.


Заказать написание новой работы



Дисциплины научных работ



Хотите, перезвоним вам?