Определение понятия метрология, история появления и развития науки. Принципы построения системы единства измерений и стандарты в этой области. Международное сотрудничество в нанометрологии и обеспечение единства измерений в диапазоне нанотехнологий.
Так как в наш мир постоянно приходят все более новые технологии, и в данном случае это нанотехнологии, то таким же образом совершенствуется и обеспечение единства измерений. В связи с возможными перспективами широкого использования нанокластеров и наноконструктивных материалов в настоящее время возникла насущная необходимость в метрологии наноматериалов.В настоящее время существует несколько международных и национальных программ, касающихся стандартизации и нормативного регулирования в области нанотехнологий. Международная организация по стандартизации (ISO), Европейский комитет по стандартизации (CEN) и организации экономического сотрудничества и развития(OECD) сформировали рабочие группы, ответственные за стандартизацию в области нанотехнологий. В нашей стране в рамках Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии существует Технический комитет ТК 441 «Наукоемкие технологии», занимающиеся разработкой стандартов в области нанотехнологий и включающий подкомитеты: ПК. Однако в России действующих стандартов в области нанотехнологий и наноматериалов еще недостаточно.В конце 20 в. Метрологическое обеспечение измерений длин менее 1 м осуществлялось только в диапазоне 1 мкм - 1м, которому соответствовала многоступенчатая структурная схема передачи размера единицы длины от Первичного эталона к измеряемому объекту. Эту схему можно представить в виде пирамиды, в основании которой находится вся совокупность рабочих средств измерений, а вершину занимает Первичный эталон единицы длины (рис 3а).(1-ПЭ, 2-Эталоны 1-го разряда, 3-Эталоны 2-го разряда, 4-Эталоны 3-го разряда, 5-рабочие средства измерений).
Вы можете ЗАГРУЗИТЬ и ПОВЫСИТЬ уникальность своей работы
