Математические модели в сканирующей микроскопии ближнего поля и их реализация в виде комплекса программ - Автореферат

бесплатно 0
4.5 193
Использование математических моделей для расчета рассеянных световых полей в ближней зоне для эталонных поверхностей с нанометровым рельефом. Разработка алгоритмов обработки СЗМ изображений поверхности (вейвлет-преобразования, фрактальный анализ).


Заказать написание новой работы



Дисциплины научных работ



Хотите, перезвоним вам?