Использование математических моделей для расчета рассеянных световых полей в ближней зоне для эталонных поверхностей с нанометровым рельефом. Разработка алгоритмов обработки СЗМ изображений поверхности (вейвлет-преобразования, фрактальный анализ).
При низкой оригинальности работы "Математические модели в сканирующей микроскопии ближнего поля и их реализация в виде комплекса программ", Вы можете повысить уникальность этой работы до 80-100%
