Вивчення за допомогою електричних вимірювань і структурного аналізу впливу низькотемпературної деформації на електричні властивості кристалів германію. Аналіз комп’ютерної методики для розрахунку напружень у зразках, що виникають при дії деформації.
При низкой оригинальности работы "Мікропластичність алмазоподібних кристалів (Si, Ge, GaAs, InAs)", Вы можете повысить уникальность этой работы до 80-100%
Дисертацією є рукопис. Робота виконана на кафедрі фізики фізико-математичного факультету Словянського державного педагогічного університету МОН України. Науковий консультант: доктор фізико-математичних наук, професор.
Вы можете ЗАГРУЗИТЬ и ПОВЫСИТЬ уникальность своей работы
