Изучение методов измерения шероховатости поверхности. Анализ преимуществ и недостатков метода светового сечения и теневой проекции профиля. Оценка влияния шероховатости, волнистости и отклонений формы поверхностей деталей на их функциональные свойства.
1. Понятие шероховатость 2. Методы измерения шероховатости поверхности 2.1 Общие сведения 2.2 Измерение шероховатости с помощью профилометра 2.3 Измерение шероховатости поверхности методом светового сечения и теневой проекции профиля 2.4 Интерференционный метод измерения шероховатости поверхности Заключение Литература Введение Производство изделий микроэлектронной техники является очень затратным трудоёмким. 1) высота неровностей Ra и Rz, измеряемых в пределах базовой длины l. Информация о качестве поверхности может быть получена на основе применения следующих неразрушающих оптических методов: - метод светового сечения; - растровый метод; - рефлектометрический метод; - метод слепков; - метод сравнения с образцовой деталью; - интерференционный метод.
Вы можете ЗАГРУЗИТЬ и ПОВЫСИТЬ уникальность своей работы
