Фундаментальные основы нанотехнологий - Курс лекций

бесплатно 0
4.5 72
Измерение рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением как одна из основных задач сканирующего туннельного микроскопа. Модельные виды идеальных твердотельных наноструктур. Характеристика самоорганизованных квантовых точек.


Заказать написание новой работы



Дисциплины научных работ



Хотите, перезвоним вам?