Фундаментальные основы нанотехнологий - Курс лекций

бесплатно 0
4.5 72
Измерение рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением как одна из основных задач сканирующего туннельного микроскопа. Модельные виды идеальных твердотельных наноструктур. Характеристика самоорганизованных квантовых точек.

Скачать работу Скачать уникальную работу

Чтобы скачать работу, Вы должны пройти проверку:



Вы можете ЗАГРУЗИТЬ и ПОВЫСИТЬ уникальность
своей работы


Новые загруженные работы

Дисциплины научных работ





Хотите, перезвоним вам?