Дослідження азимутальних залежностей нормованої повної інтегральної інтенсивності монокристалу з дефектами у випадку динамічної дифракції за Бреггом. Шляхи створення комбінованих методів кількісної діагностики характеристик дефектів декількох типів.
При низкой оригинальности работы "Динамічні ефекти асиметрії залежностей інтегральної інтенсивності розсіяння у кристалах з дефектами від умов дифракції", Вы можете повысить уникальность этой работы до 80-100%
Окрім проведення діагностики за самими товщинними, деформаційними або азимутальними залежностями ПІІ в умовах динамічної дифракції існує можливість діставати інформацію про дефекти кристалічної будови із особливостей поведінки цих залежностей, наприклад, повязаних із порушенням симетрії залежності ПІІ від ступеня пружного вигину при зміні знаку відбиття в Лауе-дифракції (порушення закону Фріделя). Створення на основі моделі інтегральної лауе-дифракції для пружно вигнутого кристалу з дефектами, яка враховує у явному вигляді як вплив дефектів, так і умов дифракції на деформаційні залежності когерентної та дифузної складових повної інтегральної інтенсивності (ПІІ) кристала, динамічних моделей параметра асиметрії ПІІ для відбиттів різних знаків із врахуванням внеску дифузної складової ПІІ та величини стрибка цього параметра в області К-краю поглинання. Створено комбіновані методи інтегральної рентгенодифракційної діагностики декількох типів дефектів, одночасно присутніх у кристалах, засновані на спільній обробці експериментальних даних, одержаних за різних умов динамічної дифракції, а саме, на спільній обробці результатів вимірювань азимутальних залежностей ПІІ для рефлексів з різними значеннями вектору дифракції, а також на спільній обробці товщинних залежностей ПІІ для невигнутого кристала та товщинних залежностей параметра асиметрії ПІІ деформованого кристала (або скачка цього параметра на К-краї поглинання). У випадку дифракції за Лауе створено моделі параметрів асиметрії ПІІ деформованого кристала з дефектами, що вперше враховують внесок дифузної складової ПІІ, які дозволили надати адекватний опис відповідних експериментальних даних та створити унікальні методи кількісної діагностики характеристик дефектів на основі спільного аналізу залежностей ПІІ від різних умов динамічної дифракції із врахуванням ефектів асиметрії. інтегральний інтенсивність монокристал дефект Особистий внесок автора в одержанні наукових результатів полягає в аналізі літературних даних, в проведенні вимірювань повних інтегральних інтенсивностей (ПІІ), в розробці моделі фактора асиметрії ПІІ у пружно вигнутих недосконалих кристалах з врахуванням дифузної складової динамічної картини розсіяння та методів діагностики дефектної структури кристалів як за товщинними залежностями фактору асиметрії і його стрибкам поблизу К-краю поглинання, так і за азимутальними залежностями ПІІ з врахуванням їх асиметрії, у створенні комбінованих методів і на їх основі проведенні обробки експериментальних даних, зокрема, для азимутальних залежностей ПІІ для рефлексів із різними значеннями вектору дифракції та для товщинних залежностей ПІІ та параметру її асиметрії для пружно вигнутого кристала з дефектами, в інтерпретації та аналізі результатів, у формулюванні висновків дисертації, а також у підготовці наукових публікацій.
Список литературы
1. Эффект асимметрии азимутальной зависимости интегральной интенсивности дифракции Брэгга в монокристалах с дефектами / В.Б. Молодкин, С.В. Дмитриев, Е.В. Первак, А.А. Белоцкая, А.И. Низкова, А.В. Мельник // Металлофиз. новейшие технол. 2006. 28, № 8. С. 1055 - 1076.
2. Динамическая теория Лауэ-дифракции рентгеновских лучей в тороидально изогнутых кристаллах с микродефектами / С. И. Олиховский, В. Б. Молодкин, О. С. Кононенко, А.А. Катасонов, А.И. Низкова, А.В. Мельник, И.Н. Заболотный // Металлофиз. новейшие технол. 2007. 29, № 7. С. 887 - 908.
3. Диагностика дефектов монокристаллов по деформационным зависимостям полной интегральной отражательной способности І. Лауэ дифракция в условиях аномального прохождения / А. П. Шпак, В. Б. Молодкин, С. В. Дмитриев, Е. В. Первак, И. И. Рудницкая, Ю. А. Динаев, А. И. Низкова, О. С. Кононенко, А. А. Катасонов, И. Н. Заболотный, А. В. Мельник, Я. В. Василик, Т. И. Пархоменко, Л. И. Ниничук, В. Ф. Мачулин, И. В. Прокопенко // Металлофиз. новейшие технол. 2007. 29, № 8. С. 1009 - 1019.
4. Новые диагностические возможности деформационных зависимостей интегральной интенсивности рассеяния кристаллами с дефектами для Лауэ-дифракции в области К-края поглощения / А.П.Шпак, В.Б.Молодкин, М.В.Ковальчук, В.Л.Носик, А.И.Низкова, В.Ф.Мачулин, И.В.Прокопенко, Е.Н.Кисловский, В.П.Кладько С.В.Дмитриев, Е.В.Первак, Е.Г.Лень, А.А.Белоцкая, Я.В.Василик, А.И.Гранкина, И.Н.Заболотный, А.А.Катасонов, М.Т.Когут, О.С.Кононенко, А.В.Мельник, В.В.Молодкин, Л.И.Ниничук, И.И. Рудницкая // Металлофиз. новейшие технол. 2009. 31, № 7. С. 927 - 945.
5. Новые диагностические возможности деформационных зависимостей интегральной интенсивности рассеяния кристаллами с дефектами для Лауэ-дифракции в условиях нарушения закона Фриделя / А.П.Шпак, В.Б.Молодкин, М.В.Ковальчук, В.Л.Носик, А.И.Низкова, В.Ф.Мачулин, И.В.Прокопенко, Е.Н.Кисловский, В.П.Кладько, С.В.Дмитриев, Е.В.Первак, Е.Г.Лень, А.А.Белоцкая, Я.В.Василик, А.И.Гранкина, И.Н.Заболотный, А.А.Катасонов, М.Т.Когут, О.С.Кононенко, А.В.Мельник, В.В.Молодкин, Л.И.Ниничук, И.И.Рудницкая // Металлофиз. новейшие технол. 2009. 31, № 8. С. 1041 - 1049.
6. Интегральная многопараметрическая дифрактометрия наносистем на основе эффектов многократности диффузного рассеяния / А.П. Шпак, М.В. Ковальчук, В.Б. Молодкин, В.Л. Носик, С.В. Дмитриев, Е.Г. Лень, С.И. Олиховский, А.И. Низкова, В.В. Молодкин, Е.В. Первак, А.А. Катасонов, Л. И. Ниничук, А.В. Мельник // Успехи физ. мет., 2009, т. 10, № 3. С. 229-281.
Вы можете ЗАГРУЗИТЬ и ПОВЫСИТЬ уникальность своей работы
