Depth profiling of the near-surface layer for Ge33As12Se55 thin films - Автореферат

бесплатно 0
4.5 69
Depth profiles of the near-surface region and chemical composition for amorphous films deposited from Ge33As12Se55 bulk glasses and their changes resulting ageing under ambient conditions have been studied by the methods of Auger electron spectroscopy.

Скачать работу Скачать уникальную работу

Чтобы скачать работу, Вы должны пройти проверку:



Вы можете ЗАГРУЗИТЬ и ПОВЫСИТЬ уникальность
своей работы


Новые загруженные работы

Дисциплины научных работ





Хотите, перезвоним вам?