Багатохвильова Х-променева дифрактометрія реальних кристалів - Автореферат

ЧЕРНIВЕЦЬКИЙ НАЦІОНАЛЬНИЙ УНIВЕРСИТЕТ iмені Юрія Федьковича КРИЦУН ІГОР ІВАНОВИЧ УДК 539.548.732 БАГАТОХВИЛЬОВА Х-ПРОМЕНЕВА ДИФРАКТОМЕТРІЯ РЕАЛЬНИХ КРИСТАЛІВ Спеціальність 01.04.07 - фізика твердого тіла Автореферат дисертацiї на здобуття наукового ступеня кандидата фiзико-математичних наук Чернiвцi - 2005 Дисертацією є рукопис. Робота виконана на кафедрі фізики твердого тіла Чернівецького національного університету імені Юрія Федьковича. З дисертацією можна ознайомитися в науковій бібліотеці Чернівецького національного університету імені Юрія Федьковича (вул. Лесі Українки, 23). Багатохвильова дифракція, в порівнянні з двохвильовою, обумовлює появу нових явищ в процесах розсіяння рентгенівських променів. Найбільш відомим серед них є метод Ренінгера [1*], який дозволяє визначати величини міжплощинних віддалей з високою точністю D а/ а@ 10-6. Перевагою даного методу є те, що прецизійність визначення періоду гратки тут залежить не від точності вимірювання відбиваючої здатності кристалу, а від визначення кутової відстані між дифракційними максимумами на багатохвильових дифрактограмах. Безперечно, що проведення подібних досліджень по визначенню структурної будови багатошарових сполук є важливим для прогнозування їхніх електричних, магнітних, оптичних та ін. властивостей, і тому слід надалі розвивати даний напрямок багатохвильової дифрактометрії. Дослідження, результати яких представлені в дисертації, виконані згідно з програмою наукової тематики кафедри фізики твердого тіла Чернівецького національного університету: “Рентгенодифракційні дослідження структури і границь розділу напівпровідникових кристалів” та в рамках проекту Державного Фонду фундаментальних досліджень Міністерства у справах науки і технологій України “Розробка рентгенодифракційних методів та дослідження структури реальних кристалів” (проект ДФФД України 2.4/551). Обєкт дослідження: кристали кремнію, телуриду кадмію, ефекти Х-променевої багатохвильової дифракції в кристалах різного ступеню досконалості, способи реалізації компланарної та випадкової багатохвильової дифракції. Предмет досліджень - механізми впливу дефектної структури кристалів на точність визначення періодів гратки; методи і пристрої Х-променевої багатохвильової дифрактометрії для визначення періодів ґраток кристалів з високою точністю. Запропоновано метод визначення абсолютних значень періодів гратки кристалів з допомогою компланарної багатохвильової дифракції, що реалізується в результаті накладання структурно-еквівалентних чотирихвильових максимумів інтенсивності шляхом зміни періоду гратки охолодженням зразка. Залежно від ступеня досконалості кристала, похибка виміру періодів гратки даним методом становить: D а @ 10?4?10-6 A. 3. Сконструйовано і виготовлено низькотемпературну (-180?80 °С) та високотемпературну (20?1000 °С) камери з температурною стабілізацією зразка для проведення експериментів з використанням багатохвильової Х-променевої дифрактометрії. 3.