Аналитические оценки методов параллельного моделирования с неисправностями цифровых устройств на логическом уровне представления. Оценка времени моделирования в зависимости от числа вычислительных ядер. Параметры масштабируемости разработанных методов.
При низкой оригинальности работы "Аналитическая оценка масштабируемости параллельных методов моделирования цифровых устройств с неисправностями", Вы можете повысить уникальность этой работы до 80-100%
