Адаптивна поляриметрія послідовного зондування однорідних анізотропних об’єктів - Автореферат

бесплатно 0
4.5 153
Розгляд структури характеристичної матриці узагальненого вимірювального рівняння в рамках методу послідовного зондування. Аналіз впливу недосконалостей елементів поляриметра на величини індивідуальних похибок параметрів Стокса і елементів матриці Мюллера.


Заказать написание новой работы



Дисциплины научных работ



Хотите, перезвоним вам?