Розгляд структури характеристичної матриці узагальненого вимірювального рівняння в рамках методу послідовного зондування. Аналіз впливу недосконалостей елементів поляриметра на величини індивідуальних похибок параметрів Стокса і елементів матриці Мюллера.
При низкой оригинальности работы "Адаптивна поляриметрія послідовного зондування однорідних анізотропних об’єктів", Вы можете повысить уникальность этой работы до 80-100%