Дослідження та характеристика методу метрологічного забезпечення виробництва. Розробка та реалізація прототипу вимірювача конфігурації на основі спекл-методу для експериментальних досліджень методу вимірювань. Аналіз пристроїв вимірювання конфігурації.
Аннотация к работе
Існуючі методи і засоби вимірювання конфігурації за допомогою шаблонів і координатно-вимірювальних машин за наявної простоти відрізняються недоліками, повязаними з низькою швидкістю одержання інформації, контактністю, складністю просторового позиціонування, що практично виключає можливість їх використання в автоматизованих технологічних процесах. Час обробки вимірювальної інформації має бути таким, щоб вимірювачі могли вмикатися безпосередньо в технологічний процес у якості зворотнього звязку, створюючи цим замкнену систему виготовлення деталей. Тому є доцільним знайти можливості вилучення інформації про конфігурацію безпосередньо зі спеклів. Розробка та реалізація прототипу вимірювача конфігурації на основі спекл-методу для експериментальних досліджень методу вимірювань, який створюється. Воно дозволяє при використанні спеціалізованих матриць ПЗС (80 Mpix і більше), двох компютерів з конфігурацією: процесор - Pentium 4 Northwood с 512 KBYTES кеш-памяті, память - 512 Mbytes DDR SDRAM, відеокарта - GEFORCE 4 с 64 Mbytes відеопамяті, контролер інтерфейсу IEEE-1394, проводить вимірювання з відносною похибкою 0,1-1% за час, необхідний для тотальної діагностики конфігурації поверхні виробів у процесі їх виготовлення.Наприклад, поверхня першого порядку (площина) описується рівнянням: IMG_1a93fec1-0cfe-4831-aa42-d47432e5913d , поверхня другого порядку: IMG_cdab1b4e-61f6-44a9-9dbe-939cd56b419e Використання параметрів нормалі до поверхні в точці освітлення або розташування дотичної площини до поверхні у цій точці дозволяє скоротити кількість необхідних точок, які однозначно визначають поверхню, але при цьому ускладнюються обчислювальні алгоритми. Дифракційний аналіз являє собою метод обробки спекл-картини з використанням законів дифракційної, геометричної оптики і методів лінійної алгебри та аналітичної геометрії в результаті котрого обчислюються координати точок падіння променя на поверхню і параметри дотичної площини. Для обробки спекл-картини необхідно знайти координати спрямовуючих векторів дифракційних порядків у цій системі координат. розвязання цієї задачі передбачає визначення матриці переходу від системи координат, повязаної з поверхнею до вимірювальної системи координат. Спочатку координати перетворювались із системи координат, повязаної з решіткою в систему координат, повязану з променем, а далі з цієї системи координат в систему координат, утворену екраном.