Атомный и молекулярный спектральный анализ. Оптическая спектроскопия. Лазерное сканирование полупроводниковых пластин с последующим спектральным анализом люминесцентного излучения. Спектральные приборы и их принципиальная схема. Дифракционная решётка.
Аннотация к работе
БЕЛОРУССКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИНФОРМАТИКИ И РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ Кафедра ЭТТ РЕФЕРАТ На тему: «Спектральные методы НК» МИНСК, 2008 Оптическая спектроскопия относится к числу наиболее важных физических методов анализа химического состава материалов электронной техники. По положению спектральных линий в спектре можно судить об уровнях энергии и внутреннем строении атомов и молекул и их элементном составе, а по интенсивности линий - о вероятностях переходов между отдельными уровнями. Атомный спектральный анализ обычно производят при высокой температуре исследуемого вещества (плазма, дуга, искра), когда происходит испарение вещества, расщепление его молекул на отдельные атомы и возбуждение этих атомов, приводящее к свечению вещества.