Характеристика электронных зондовых микроскопов. Двухступенчатый метод получения тонких бездефектных мембран на основе палладия. Влияние гидрирования на перераспределение атомов легирующего вещества в процессе релаксации. Анализ толщин тонких пленок.
Аннотация к работе
1. Литературный обзор 1.1 Общая характеристика электронных зондовых микроскопов 1.2 Туннельный микроскоп как система технического зрения для визуализации нанорельефа поверхности 1.3 Воздействие термической активации на свойства проникновения водорода через Pd/Ag мембраны 1.4 Двухступенчатый метод получения тонких бездефектных мембран на основе Pd 1.5 Влияние гидрирования на перераспределение атомов легирующего вещества в процессе релаксации на примере сплава Pd-In-Ru 1.6 Нанокатализаторы 1.7 Металлокампозиты 2. Экспериментальная часть 2.1 Использованные приборы 2.2 Методика анализа толщин Pd / Ag тонких пленок 2.3 Результаты работы 2.3.1 Результаты, полученные в ходе плавления на индукционной установке SP-15 2.3.2 Результаты определения толщины напыленных сплавов на микроинтерферометре МИИ-4М 2.3.3 Результаты, полученные в ходе анализа на электронном растровом микроскопе JEOL JSM-7500F 2.3.4 Результаты полученные в ходе анализа на сканирующем зондовом микроскопе JEOL JSPM-5400 2.3.5 Анализ результатов получе