Дослідження дисперсії й температурних змін кристалів сульфату амонію в широкій ділянці спектра і температур. Встановлення впливу одновісного механічного тиску на показники заломлення. Вивчення спектральних та температурних змін п’єзооптичних коефіцієнтів.
Аннотация к работе
Відомі оптико-спектральні дослідження цих кристалів стосуються лише вивчення двопроменезаломлення ?ni та показників заломлення ni механічно вільного кристалу. Не проводилося також дослідження впливу одновісних тисків на інфрачервоні (ІЧ) спектри цих кристалів, що важливо для розкриття механізмів ФП та змін реферативних параметрів. У звязку з цим цікаво зясувати вплив одновісних тисків уздовж різних кристалофізичних осей на зміни ?ni та ni; спектральну залежність змін ?ni і ni; вплив одновісних тисків на положення та інтенсивність піків дзеркального відбивання в ІЧ ділянці спектра; можливість індукування ізотропного стану; особливості перехресних ефектів: температурно-спектрально-баричних залежностей параметрів оптичної індикатриси. Досягнення цієї мети вимагало виконання таких завдань: дослідити дисперсію й температурні зміни ni(l, T) і Dni(l, T) кристалів СА в широкій ділянці спектра (250-800 нм) і температур (77-295 К); розрахувати параметри їх ефективних УФ та ІЧ осциляторів, електронної поляризовності та рефракції; встановити вплив одновісного механічного тиску на показники заломлення, двопроменезаломлення та точку ФП кристалів (NH4)2SO4;У першому розділі дисертації розглянуто основні фізичні та проаналізовано особливості оптичних властивостей (дисперсія ?ni і ni) механічно вільних сегнетоелектричних кристалів СА; проаналізовано температурні зміни основних оптичних параметрів кристалів СА й показано, що ФП визначать переважно SO4-групи, які колективно змінюють свою орієнтацію, положення і величини спотворення в точці Тс, зумовлюючи часткове впорядкування амонійних груп. Також описано методику автоматизованого автором процесу досліджень впливу одновісних тисків на ІЧ-спектри відбивання кристалів. Зясовано, що ?ni кристалів СА достатньо чутливе і майже лінійно змінюється при дії одновісних тисків: дія одновісного тиску ?х зумовлює збільшення Dnz і зменшення Dny; при тиску ?y Dnz зменшується, а Dnx зростає; при тиску вздовж осі Z Dny збільшується, а Dnx зменшується. Виявлено, що тиск ?Х зсуває точку ФП до вищих температур (), а одновісні тиски вздовж осей Z і Y зміщують точку ФП до нижчих температур (). Встановлено, що одновісні тиски не змінюють характеру кривих ni(l): при тисках величиною ?m ~ 150 бар ni в середньому зростають на 2...