Дослідження механізму взаємодії дефектів YBCO плівки. Дослідження нелінійних залежностей імпедансу від амплітуди високотемпературних надпровідних купратів поля та пошук механізмів виникнення нелінійної залежності імпедансу в копланарній геометрії.
Аннотация к работе
Метою дисертації було визначення кореляції високочастотних властивостей (поверхневого НВЧ - імпедансу в лінійному та нелінійному режимах) епітаксійних плівок ВТНП (YBCO) купратів з їх реальною дефектною наноструктурою, а також, підходів до оптимізації таких плівок для використання в НВЧ - техніці. У відповідності до мети було сформульовано наступні завдання досліджень: 1) дослідження температурних залежностей імпедансу YBCO плівок для випадків обємного та копланарного резонаторів в лінійному режимі (відносно амплітуди НВЧ поля) та порівняння між собою; З експериментальних залежностей поверхневого опору, завдяки застосуванню моделі нелінійного відгуку, вперше з результатів НВЧ вимірювань було отримано залежності критичного струму від температури та величини зовнішнього магнітного поля. Автор дисертаційної роботи проводив обробку експериментальних даних, приймав участь в написанні статей, побудував модель виникнення гістерезисних залежностей поверхневого опору від зовнішнього магнітного поля в режимі ZFC, розробив модель та розрахував нелінійний відгук імпедансу плівок YBCO від амплітуди НВЧ струму в копланарній топології, а також брав участь в розробці моделі s id хвильового спарювання та моделі взаємодії вихоревого ансамблю з НВЧ полем у режимі FC. В розділі також наводиться опис двох резонансних методик вимірювань (обємний та копланарний резонатор) та метод розрахунку поверхневого опору та глибини проникнення НВЧ поля у плівку з величини добротності та резонансної частоти резонатору, які безпосередньо вимірювались у експерименті.Двохпікова особливість залежності поверхневого опору монокристалічної плівки YBCO від температури, а також, її відмінність від немонотонної залежності Zs(T, w) досконалих монокристалів (або менш досконалих плівок) може бути пояснена при використанні двох основних припущень: анізотропії електронного спарювання s id типу, а також домінуванням с орієнтованих подовжених дефектів в процесі розсіювання квазічасток. Внаслідок нерівномірного розподілу магнітного потоку в плівці у режимі ZFC залежність поверхневого опору від прикладеного зовнішнього магнітного поля носить гістерезисний характер і суттєво відрізняється від залежності, що отримана у режимі FC.