Оценка возможности разработки методов контроля качества оптических деталей на основе теневого фонового метода. Получение векторных полей смещений точек фонового экрана, пропорциональных градиенту показателя преломления, при наличии клиновидности, царапин.
Аннотация к работе
Аннотация. МОДЕЛИРОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ДЕФЕКТОВ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ НА КАРТИНЫ ТЕНЕВОГО ФОНОВОГО МЕТОДА. 1кандидат технических наук, проф., зав. кафедрой физики им.