Методика вимірювання електричних властивостей монокристалів n-Ge при високих одновісних тисках - Статья

бесплатно 0
4.5 175
Залежність критичної механічної напруги від площі поперечного перерізу зразків n-Ge, що використовуються при дослідженнях деформаційних ефектів. Вплив геометричних розмірів зразків на точність вимірювання питомої електропровідності монокристалів.


Заказать написание новой работы



Дисциплины научных работ



Хотите, перезвоним вам?