Квазиоптическое масштабное моделирование влияния локализованных дефектов поверхности металлов на данные оптической эллипсометрии - Статья

бесплатно 0
4.5 245
Описание эллипсометра и результаты систематических исследований влияния различных дефектов на поверхности материала с сильным поглощением на данные эллипсометрии. Создание схемы автоматизированного квазиоптического терагерцевого нуль-эллипсометра.


Заказать написание новой работы



Дисциплины научных работ



Хотите, перезвоним вам?