Феноменологічна динамічна модель залежностей повної інтегральної інтенсивності дифрагованого випромінення у вигнутих кристалах з дефектами від пружного циліндричного вигину та характеристик дефектів для граничного випадку кристала в геометрії за Лауе.
Аннотация к работе
Проте, як показано в цій роботі, її застосування в граничному випадку "товстого" кристала, інакше кажучи, в умовах аномального проходження (як відомо ефект Бормана є одним з найбільш чутливих до дефектів), не призвело до успіху, так як модель описує ефект впливу дефектів протилежний навіть за знаком порівняно з тим, що спостерігається експериментально. В звязку з вище наведеним робота, присвячена створенню на єдиних принципах моделей інтегральної лауе-дифракції для граничних випадків як "тонкого", так і "товстого" пружно вигнутих кристалів з дефектами, котрі при цьому не мають обмежень на розмір дефектів та включають у явному вигляді залежності від умов динамічної дифракції і можуть бути покладені в основу комбінованого підходу при багатопараметричній діагностиці дефектів декількох типів, одночасно присутніх в кристалах, по деформаційним залежностям повної інтегральної інтенсивності, є актуальною. · Створено феноменологічну динамічну модель залежностей повної інтегральної інтенсивності (ПІІ) дифрагованого випромінення у вигнутих кристалах з дефектами від пружного циліндричного вигину та характеристик дефектів для граничного випадку "товстого" кристала в геометрії за Лауе, коли реалізуються умови для найбільш чутливого до дефектів динамічного ефекту аномального проходження (ефекту Бормана). · Для геометрії дифракції за Лауе побудована модифікована феноменологічна динамічна модель залежності повної інтегральної інтенсивності від циліндричного пружного вигину для граничного випадку "тонкого" кристала з дефектами, яка не має обмежень на розміри дефектів і подібна за принципами побудови, рівнем узагальнення і універсальності та функціональними можливостями до створеної моделі для "товстого" кристала. · На основі спільного використання побудованих для граничних випадків "тонкого" і "товстого" кристалів феноменологічних динамічних моделей інтегральної Лауе-дифракції у пружно вигнутих кристалах з дефектами створено комбінований метод багатопараметричної діагностики одночасно присутніх у кристалі дефектів кількох типів за деформаційними залежностями повної інтегральної інтенсивності, який суттєво доповнює можливості створених раніше методів, що використовують залежності ПІІ від інших умов дифракції.
Список литературы
1. Динамическая теория Лауэ-дифракции рентгеновских лучей в тороидально изогнутых кристаллах с микродефектами / С.И. Олиховский, В.Б. Молодкин, О.С. Кононенко, А.А. Катасонов, А.И. Низкова, А.В. Мельник, И.Н. Заболотный // Металлофиз. новейшие технол. - 2007. -Т. 29, № 7. - С. 887-908.