Исследование диэлектрической проницаемости и потерь изолирующих материалов, помещенных в твёрдое поле с применением метода вариации активной проводимости. Расчет параметров диэлектриков. Свойства и применение фторопластов, оргстекла, эбонитов, винипласта.
Аннотация к работе
Цель работы: исследование диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь диэлектриков, помещенных в твердое поле. Для определения диэлектрических потерь в данной работе используется контурный резонансный метод определения ? и tg? параметров диэлектрика, называемый методом вариации активной проводимости. Куметр состоит из генератора и измерительного колебательного контура, образуемого из образца конденсатора переменной емкости и катушкой индуктивности «20», обкладки внешнего конденсатора «17» между которыми, в ходе опыта, помещаются образцы «18». Ниже представлены две схемы, схема а и схема б, куметр в начале опыта и куметр с подключенными внешними обкладками. 3) Cx=C1-C2 - емкость исследуемого образца; где C1 - емкость конденсатора при резонансной частоте, Ф; С2 - емкость конденсатора, между обкладками которого помещен исследуемый образец, Ф.