Изучение тензора диэлектрической проницаемости в многокомпонентных редкоземельных ферритах-гранатах. Рассмотрение процессов деформации и ростовой анизотропии кристалла. Распространение света в эпитаксиальных пленках редкоземельных ферритов-гранатов.
Аннотация к работе
ООО «Центр микроэлектроники и специальной техники», г.Определены ее вклады, связанные с неоднородностью состава по толщине и с нестатистическим распределением ионов разных размеров по кристаллографическим позициям, определен вид тензора в области окна прозрачности гранатов с учетом деформаций и ростовой анизотропии кристалла. Рассмотрены по отдельности эффекты оптической анизотропии, возникающие при распространении света в эпитаксиальных пленках РЗФГ вследствие спонтанной намагниченности, несоответствия постоянных решеток пленки и подложки, неоднородности кристаллической структуры по толщине пленки. Her deposits connected with heterogeneity of structure on thickness and with not statistical distribution of ions of the different sizes on crystallographic positions are defined, the type of a tensor by in the field of a window of transparency of pomegranates taking into account deformations and growth anisotropy of a crystal is determined the effects of optical anisotropy arising at distribution of light in epitaxial films of REFG owing to spontaneous magnetization, discrepancy of constant lattices of a film and a substrate, heterogeneity of crystal structure on film thickness are considered separately. Вид тензора аналогичен виду магнитооптического тензора деформацию разделим на две части: - относительную деформацию в направлении, параллельном плоскости пленки, и (относительную деформацию в направлении, перпендикулярном плоскости пленки, причем ; , где и параметры кристаллической решетки пленки в этих двух направлениях, - параметр решетки РЗФГ в недеформированном состоянии. Используя явный вид тензоров и матричного уравнения (2) можно найти изменение значения главных показателей преломления пленки РЗФГ, обусловленные фотоупругостью, для трех случаев ориентации плоскостей пленки: 1) Для света, распространяющегося в плоскости пленки, параллельной {100} величина двупреломления определяется как = - =( ( - )(1 ) (4) где изменения показателей преломления для двух линейно поляризованных, световых волн, поляризацией соответственно вдоль и перпендикулярно плоскости пленки.