Физические основы дифракционных методов исследования структуры материалов - Статья

бесплатно 0
4.5 140
Изучение рассеивания излучения на объекте методом исследования структуры материалов. Описание процесса распределения электронной плотности в элементарной ячейке кристалла бензола спроецированное на плоскость. Открытие структуры нуклеиновых кислот.


Заказать написание новой работы



Дисциплины научных работ



Хотите, перезвоним вам?