Дослідження поверхні пористого кремнію мас-спектроскопією вторинних іонів - Статья

бесплатно 0
4.5 139
Вивчення методами мас-спектрометрії кремнієвих поверхонь мультикристалічних підкладок до і після електрохімічного травлення з використанням складної органічної сполуки. Дослідження поверхні мультикристалічної підкладки мас-спектроскопією вторинних іонів.


Заказать написание новой работы



Дисциплины научных работ



Хотите, перезвоним вам?